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產品型號：K050
更新時間：2025-04-23簡要描述：日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場景。
深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K050 產品特點如下：
日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K050與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載，使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距，您不僅可以選擇柱塞*形狀，還可以選擇負載。您可以選擇適合您需求的型號。
KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針，以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場景。
1. 設計亮點
① 高可靠性接觸
雙層彈簧結構：內層提供初始接觸力，外層承擔高負載，避免單點疲勞失效。
冠形針頭設計：多點接觸模式，穿透焊盤氧化層的同時減少劃傷風險。
② 適應性優(yōu)化
可調行程：支持定制化行程（1.8-3.0mm），適配不同PCB厚度公差。
防卡死導向：特氟龍涂層導向套，減少摩擦導致的卡針問題。
③ 信號完整性
低電感設計：＜1nH（1MHz下），適合高速數(shù)字信號（如DDR5）測試。
2. 典型應用
功率模塊測試：
GBT/SiC模組的柵極驅動信號測試（5A電流需求）。
電動汽車逆變器PCB的循環(huán)耐久性驗證。
高密度PCB檢測：
服務器主板PCIe插槽的阻抗連續(xù)性檢查。
5G基站射頻模塊的焊點導通性測試。
3. 核心參數(shù)
| 特性 | 參數(shù)值/描述 |
|---|---|
| 針徑 | 0.50 mm（平衡尺寸與強度） |
| 額定電流 | 5A（瞬態(tài)峰值可達8A） |
| 工作負載 | 500-800gf（穩(wěn)定接觸氧化表面） |
| 行程范圍 | 2.0-2.5 mm（優(yōu)化緩沖行程） |
| 接觸電阻 | ≤25mΩ（鍍金觸點，低衰減） |
| 機械壽命 | ≥80萬次（標準負載） |
| 耐溫范圍 | -40°C ~ +150°C（高溫可選型號） |
4. 核心型號參數(shù)對比
| 型號 | 額定電流 | 最大負載 (gf) | 行程 (mm) | 針徑 (mm) | 特點 |
|---|---|---|---|---|---|
| K039 | 3A | 300-500 | 1.5-2.0 | 0.39 | 微型化設計，高密度測試 |
| K050 | 5A | 500-800 | 2.0-2.5 | 0.50 | 平衡負載與壽命 |
| K075 | 7A | 800-1200 | 2.5-3.0 | 0.75 | 高電流/高耐久性 |
| K100 | 10A | 1200-1500 | 3.0-4.0 | 1.00 | 強負載，工業(yè)級應用 |
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